خدمات آزمایشگاهی
XRD
دستگاه پراش پرتو ایکس (XRD) نسل X'Pert³ MRD XL Extended ساخت Malvern Panalytical (هلند) در این آزمایشگاه راهاندازی شده است. این سیستم High-Resolution XRD با horizontal goniometer 420 میلیمتری و angular accuracy ±0.0025 درجه امکان full wafer mapping تا 200 میلیمتر را فراهم میکند. این سیستم قابلیت انجام Reciprocal Space Mapping، In-plane Diffraction، Grazing Incidence X-ray Diffraction (GIXRD)، X-ray Reflectometry (XRR)، Texture Analysis، Stress Measurement و Phase Identification را دارد. پلتفرم PreFIX امکان نصب همزمان X-ray mirror و high-resolution monochromator برای افزایش شدت پرتو را فراهم میکند. خدمات تحلیلی برای نمونههای نیمههادی تک کریستالی (اندازهگیری thickness، strain و composition لایهها)، لایههای پلیکریستالی و coatingها، nanomaterials و amorphous layers، و همچنین اندازهگیری در non-ambient conditions با دامنه دمایی وسیع در دسترس است.
XRF
دستگاه X-Ray Fluorescence (XRF) نسل جدید Revontium 2025 ساخت شرکت Malvern Panalytical (هلند) در این آزمایشگاه راهاندازی شده است. این سیستم EDXRF پیشرفته با عملکرد مشابه دستگاههای 1kW WDXRF ایستاده عمل میکند. امکان شناسایی عناصر از سدیم (Na) تا آمریسیم (Am) در نمونههای جامد (مواد معدنی، فلزات، سرامیک)، مایع (محلولها) و پودر (پرس شده و فوز شده) را فراهم میکند. ارائه نتایج بهصورت اکسیدی، اندازهگیری همزمان تعداد زیادی عنصر، و انجام آنالیز بهصورت غیرتخریبی از قابلیتهای این دستگاه است. سیستم قابلیت تحلیل batch با ظرفیت حداکثر 32 نمونه به صورت همزمان را دارد. تحلیل در محیط هوا انجام میشود و نمونهها نیازی به آمادهسازی خاصی ندارند. دقت بالا با قابلیت تکرارپذیری عالی از ویژگیهای مهم این دستگاه است. خدمات تحلیل با این دستگاه برای نمونههای معدنی، مواد اولیه صنعتی، محصولات فلزی و سرامیکی، و آثار تاریخی–فرهنگی قابل ارائه است.
Petrography
آزمایش پتروگرافی (سنگشناسی) از سال 1404در آزمایشگاه کوشا راهاندازی شده است، روشی تخصصی برای مطالعه سنگ و مواد معدنی در مقیاس ماکروسکوپی و میکروسکوپی است. در این روش، از نمونه ارسالی مقطع نازکی با ضخامت حدود ۳۰ میکرون تهیه شده و با میکروسکوپ نوری پلاریزان مورد بررسی قرار میگیرد. در مطالعات معدنی، بهجای مقطع نازک، مقطع صیقلی آماده میشود. اساس این روش بر شناسایی اجزای سازنده نمونه بر مبنای خصوصیات نوری کانیهای موجود است و در مطالعه انواع سنگ، سفال، سرامیک، آجر، تعیین منشاء سفال، تعیین درجه حرارت پخت سفال، تشخیص نوع ماده معدنی استحصالی در سرباره و شناسایی رنگدانههای معدنی در آثار تاریخی–فرهنگی کاربرد دارد.
VSM
آزمون مغناطیسسنج نمونه ارتعاشی (VSM) در این آزمایشگاه با دستگاه VSM-250 ساخت شرکت Dexing چین انجام میشود؛ این تجهیز با قابلیت اعمال میدان مغناطیسی تا ۱.۵ تسلا، امکان اندازهگیری دقیق منحنیهای مغناطش–میدان و سایر خواص مغناطیسی مواد را برای انواع نمونههای مغناطیسی در پروژههای پژوهشی و صنعتی فراهم میکند.
AFM
آزمایش میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) در این آزمایشگاه با دستگاه Naio AFM ساخت شرکت Nanosurf سوئیس انجام میشود. این میکروسکوپ امکان تصویربرداری سهبعدی از توپوگرافی سطح با دقت نانومتری را فراهم کرده و با دو حالت تصویربرداری تماسی و غیرتماسی، برای مطالعه زبری سطح، مورفولوژی لایههای نازک، نانوساختارها و مواد پیشرفته در پروژههای پژوهشی و صنعتی مورد استفاده قرار میگیرد.